冷熱沖擊試驗(yàn)箱專(zhuān)測(cè)IC芯片

簡(jiǎn)要描述：冷熱沖擊試驗(yàn)箱專(zhuān)測(cè)IC芯片：
本產(chǎn)品廣泛應(yīng)用于電子、汽車(chē)配件、塑膠等行業(yè)，測(cè)試各種材料對(duì)高、低溫的反復(fù)抵拉力，試驗(yàn)出產(chǎn)品于熱脹冷縮所產(chǎn)生的化學(xué)變化或物理傷害，可確認(rèn)產(chǎn)品的品質(zhì)，從精密的IC到重機(jī)械的組件，無(wú)一不需要它的認(rèn)同。

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所屬分類(lèi)：冷熱沖擊試驗(yàn)機(jī)

產(chǎn)品時(shí)間：2025-11-18

詳情介紹

冷熱沖擊試驗(yàn)箱專(zhuān)測(cè)IC芯片本產(chǎn)品廣泛應(yīng)用于電子、汽車(chē)配件、塑膠等行業(yè)，測(cè)試各種材料對(duì)高、低溫的反復(fù)抵拉力，試驗(yàn)出產(chǎn)品于熱脹冷縮所產(chǎn)生的化學(xué)變化或物理傷害，可確認(rèn)產(chǎn)品的品質(zhì)，從精密的IC到重機(jī)械的組件，無(wú)一不需要它的認(rèn)同。

產(chǎn)品采用電阻式高精度觸摸屏操作方式，可直接使用USB鼠標(biāo)或觸摸筆點(diǎn)擊屏幕進(jìn)行功能選擇或者參數(shù)設(shè)置。

冷熱沖擊試驗(yàn)箱專(zhuān)測(cè)IC芯片

GB/T 2423.1-2008 試驗(yàn)A：低溫試驗(yàn)方法、GB/T 2423.2-2008 試驗(yàn)B：高溫試驗(yàn)方法、GB/T2423.22-2002 試驗(yàn)N：溫度變化試驗(yàn)方法試驗(yàn)Na

GJB 150.5A-2009 軍用設(shè)備實(shí)驗(yàn)室環(huán)境試驗(yàn)方法第5部分:溫度沖擊試驗(yàn)

GJB 360A-1996 溫度沖擊試驗(yàn)、IEC 68-2-14 試驗(yàn)方法 N ：溫度變化

GJB367.2-2001 通信設(shè)備通用規(guī)范溫度沖擊試驗(yàn)

6.10送風(fēng)循環(huán)系統(tǒng)	電機(jī)	采用進(jìn)口西門(mén)子循環(huán)馬達(dá)+耐高溫鋁合金循環(huán)風(fēng)輪
	風(fēng)道循環(huán)	設(shè)備內(nèi)部風(fēng)路循環(huán)采用上出風(fēng)下回風(fēng)設(shè)計(jì)，風(fēng)壓、風(fēng)速皆符合試驗(yàn)標(biāo)準(zhǔn)，并且在開(kāi)關(guān)門(mén)瞬間溫度回穩(wěn)時(shí)間快。
	離心風(fēng)機(jī)	利用高品質(zhì)離心風(fēng)機(jī)強(qiáng)力送風(fēng)循環(huán)，避免任何死角，可使測(cè)試區(qū)內(nèi)溫度分布均勻；節(jié)能、靜音更好的保證良好的辦公環(huán)境及操作人員的工作環(huán)境，符合當(dāng)前及國(guó)內(nèi)環(huán)保要求
6.11安全保護(hù)裝置	獨(dú)立超溫保護(hù)裝置、電源欠相或相位錯(cuò)誤保護(hù)、壓縮機(jī)過(guò)流保護(hù)、壓縮機(jī)過(guò)熱保護(hù)、壓縮機(jī)超壓保護(hù)、加熱管空焚保護(hù)、加濕器干燒保護(hù)、水箱缺水警報(bào)、風(fēng)扇風(fēng)機(jī)過(guò)流保護(hù)、漏電保護(hù)、壓縮機(jī)延時(shí)啟動(dòng)保護(hù)、溫度過(guò)沖超限保護(hù)等

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